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现代电子装联工艺可靠性
樊融融编著更新时间:2018-12-28 14:34:50
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电子产品的工艺可靠性问题,存在于产品在工厂生产和市场服役的全过程。笔者从事电子装联工艺及其装备等技术研究整50年,深感电子制造中的工艺可靠性问题,随着微组装和微焊接技术应用的日趋广泛和深入而愈显突出。因此,加强电子装联工艺工程师们对工艺可靠性基础理论的掌握和技术素质的提升,是关系到一个公司的产品实施“低成本、优质、可靠”战略的关键一环,本书的出发点就是在不断发展的现代电子产品制造中,当面对形形色色的缺陷和故障现象时,能为他们提供技术支持。
上架时间:2012-04-01 00:00:00
出版社:电子工业出版社
上海阅文信息技术有限公司已经获得合法授权,并进行制作发行
现代电子装联工艺可靠性最新章节
查看全部- 参考文献
- 13.3 获得焊点可靠性的基础——基体金属的可焊性试验
- 13.2 主要的试验内容和方法
- 13.1 工艺可靠性试验概论
- 第13章 工艺可靠性试验
- 12.7 焊点可靠性蜕变现象讨论
- 12.6 PCBA在服役期焊点失效的典型案例
- 12.5 生产中PCBA焊点失效典型案例
- 12.4 BGA组装异常案例分析
- 12.3 BGA焊点的常见失效模式及机理
樊融融编著
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